仪器设备
布鲁克d8 advance高分辨粉末x射线衍射仪
发布时间：2022-06-13
仪器名称：高分辨粉末x射线衍射仪
生产厂家：德国布鲁克公司
仪器型号：d8 advance型
仪器简介：
仪器广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体，为科学研究提供准确可靠的数据。
该设备能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、薄膜材料的物相、厚度、密度、粗糙度分析。晶胞参数计算和固溶体分析以及纤维样品的取向、结晶度分析, x射线小角散射分析。可开展物相定性分析（粉体、块体与薄膜等）；物相定量分析；精确测定点阵常数；晶粒大小及晶格畸变测定；颗粒大小及其分布测试；薄膜厚度（<100nm）及粗糙度测试；物质相变测定等。
主要参数：
1. x射线光源
1.1. x射线发生器部分：最大输出功率：3kw；额定电压：60kv；额定电流：60ma。
1.2 x射线光管部分：x射线光管：cu靶，陶瓷x光管，2.2 kw；焦斑大小：0.4 x 12 mm。
2. 测角仪部分
2theta转动范围：-10°~168°；可读最小步长：0.0001°，角度重现性：0.0001°；全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。
3. 探测器部分：
3.1探测器类型：能量色散阵列检测器；最大计数：≥1 x 109 cps；3.3 线性范围：≥4x107 cps；背景：<0.1 cps
3.2 探测器自身能量分辨率：≤380ev，光路中无需插入滤光片或者单色器即可有效去除kβ
3.3 提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试，小角最小从0.3度开始
3.4 去荧光能力：在cu光源下，光路中无需任何单色器即可去除含fe/co/ni/mn等元素的荧光背底
3.5 功能：具备零维、一维和二维三种测量模式,扫描方式：零维模式（点探测器），一维模式（阵列探测器），二维模式（面探测器）
3.6 入射光路为三光路系统，光路一：粉末衍射聚焦光路;光路二：薄膜反射多层膜平行光系统；光路三：高分辨平行光 ge200单色ka1系统，光束发散度优于 31”.
3.7 原位变温附件测试温区：室温-1600℃，程序控温，控温精度±0.1℃（ta片加热）。
